實(shí)驗(yàn)室磁場控制系統(tǒng) 產(chǎn)品概述： FCP磁場控制平臺(tái)是根據(jù)磁控原理設(shè)計(jì)的理想磁測量系統(tǒng)，磁場范圍超過3T，利用TESTIK475高斯計(jì)穩(wěn)定磁場控制，適合各系列電磁鐵配置，連續(xù)可變的電磁氣隙，實(shí)心的和光學(xué)入口極帽，線型雙極，真實(shí)四象限電磁鐵電源。

錦正茂科技 磁場控制系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)配置： TESTIK475有1個(gè)計(jì)算機(jī)接口：RS-232串口:。這個(gè)接口可以設(shè)置所有儀器參數(shù)和測量值得讀回。在磁場控制期間，接口的讀數(shù)率是額定每秒30個(gè)讀數(shù)。475的LabVIEW驅(qū)動(dòng)是提供的（選配）。磁場控制平臺(tái)不含應(yīng)用軟件

產(chǎn)品概述： 可進(jìn)行真空環(huán)境下的高低溫測試（4.2K~500K），可升級(jí)加載磁場，低溫防輻射屏設(shè)計(jì)，樣品臺(tái)采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩(wěn)定性和重復(fù)性的PT100或者標(biāo)定過的硅二極管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng)， 高低溫真空探針臺(tái)測試系統(tǒng)

高低溫真空探針臺(tái) 半導(dǎo)體測試儀器 探針臺(tái)配備4個(gè)（6個(gè)、8個(gè)）擁有高精度位移的探針臂，同時(shí)配有高精度電子顯微鏡，便于微小樣品的觀察操作。探針可通過直流或者低頻交流信號(hào)，用來測試芯片、晶圓片、封裝器件等，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體工業(yè)、MEMS 、超導(dǎo)、電子學(xué)、鐵電子學(xué)、物理學(xué)、材料學(xué)和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。