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電磁鐵的磁芯材質(zhì)
電磁鐵的磁芯材質(zhì)

電磁鐵的磁芯材質(zhì):軟鐵還是硬鐵電磁鐵的磁芯通常采用軟鐵材質(zhì),因其具有高磁導(dǎo)率和低矯頑力,使得電磁鐵能夠在通電時迅速產(chǎn)生強磁場,斷電后磁場又能迅速消失。一、電磁鐵與磁芯材質(zhì)電磁鐵是一種利用電流產(chǎn)生磁場的裝置。其核心部件——磁芯,對電磁鐵的性能有著至關(guān)重要的影響。在選擇磁芯材質(zhì)時,需...

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2025

2.18
  • 手動、半自動、全自動探針臺有何區(qū)別

    手動探針臺、半自動探針臺和全自動探針臺是三種不同類型的探針臺,它們在使用類型、功能、操作方式和價格等方面都有所不同。手動探針臺是一種手動控制的探針臺,通常用于沒有很多待測器件需要測量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下。該類探針臺的優(yōu)點是靈活、可變性高,易于配置環(huán)境和轉(zhuǎn)換測試環(huán)境,并且不需要涉及額外培訓(xùn)和設(shè)置時間的電子設(shè)備、PC或軟件。手動探針臺系統(tǒng)只需要少量的培訓(xùn),因此非常適合研發(fā)人員使用。半自動探針臺是一種半自動控制的探針臺,可以在沒有很多待測器件需要測量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下使用。與...

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    2024

    3.2
  • 晶圓測試是什么?為什么要進(jìn)行晶圓測試?

    晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進(jìn)行針測,在檢測頭裝上以金線制成細(xì)如毛發(fā)之探針(probe),與晶粒上的接點(pad)接觸,測試其電氣特性,不合格的晶粒會被標(biāo)上記號,而后當(dāng)晶片依晶粒為單位切割成獨立的晶粒時,標(biāo)有記號的不合格晶粒會被洮汰,不再進(jìn)行下一個制程,以免徒增制造成本。在晶圓制造完成之后,晶圓測試是一步非常重要的測試。這步測試是晶圓生產(chǎn)過程的成績單。在測試過程中,每一個芯片的電性能力和電路機能都被檢測到。晶圓測試也就是芯片測試(diesort)或晶圓電測(wafersort...

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    2024

    3.2
  • 探針臺是如何工作的

    探針臺將晶圓或芯片固定在安裝在平臺上的卡盤上,該平臺允許將DUT定位在顯微鏡視野的中心。機械手放置在平臺的平面上,并在機械手中插入探針臂和jian端。探頭jian端必須適合要執(zhí)行的測試程序。然后,用戶通過調(diào)整相應(yīng)的操縱器將探針jian端精確定位在設(shè)備內(nèi)的正確位置。然后通過降低壓板使探針與晶片接觸;現(xiàn)在可以測試該設(shè)備。對于具有多個器件的晶圓,在測試第一個器件后,可以升起壓板并將支撐晶圓的平臺移動到下一個器件。重復(fù)定位探針jian端的過程,直到測試完所有必需的設(shè)備。這個過程都可以...

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    2024

    3.2
  • 晶圓探針臺概述

    晶圓探針臺是一種成熟的工具,用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。探針臺允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針放置在設(shè)備上,然后測試該設(shè)備對外部刺激(電子、光學(xué)或射頻)的響應(yīng)。這些測試可以很簡單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以更復(fù)雜,涉及復(fù)雜微電路的全功能測試。探針臺可以在整個晶圓上或被鋸成單個芯片后運行測試。整個晶圓級的測試允許制造商在整個生產(chǎn)過程的不同階段多次測試設(shè)備,并密切監(jiān)控制造以查看是否存在任何缺陷。在最終封裝之前對單個芯片進(jìn)行測試可以將有缺陷的器件從流通中移除,...

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    2024

    3.2
  • 探針臺手動位移平臺主要做什么用

    手動位移臺系列產(chǎn)品主要用于對物體進(jìn)行平移、升降、旋轉(zhuǎn)、角位等六個空間自由度調(diào)整,適用于自動化程度不高且調(diào)整不頻繁的應(yīng)用.精密位移滑臺復(fù)坦希專業(yè)生產(chǎn)的位移臺系列產(chǎn)品包括平移臺,升降臺,旋轉(zhuǎn)臺,傾斜臺,角位臺、整體式多軸位移臺等;一,手動位移平臺的用途:位移臺主要分為電動位移臺和手動位移臺。位移臺因其高精度、可控性強、實用性高、維護(hù)簡單、因而廣泛應(yīng)用于科研、激光應(yīng)用、全自動計量檢測儀器設(shè)備、工業(yè)自動化等領(lǐng)域;以及實現(xiàn)真空、污染、無菌、輻射等環(huán)境下的位移控制。二:手動位移臺產(chǎn)品分類...

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    2024

    2.27
  • 手動探針臺的操作使用方式概述

    手動探針臺是一種手動控制的探針臺,通常用于沒有很多待測器件需要測量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下。該類探針臺的優(yōu)點是靈活、可變性高,易于配置環(huán)境和轉(zhuǎn)換測試環(huán)境,并且不需要涉及額外培訓(xùn)和設(shè)置時間的電子設(shè)備、PC或軟件。手動探針臺系統(tǒng)只需要少量的培訓(xùn),因此非常適合研發(fā)人員使用。1.將樣品載入真空卡盤,開啟真空閥門控制開關(guān),使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺,在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺將樣品待測試點移...

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    2024

    2.27
  • 探針臺有哪些優(yōu)勢

    探針臺廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電以及集成電路等行業(yè),用于測試、調(diào)試和維修電子設(shè)備、電路板和芯片。探針臺具有以下優(yōu)勢:1.能夠確保相關(guān)產(chǎn)品研發(fā)的質(zhì)量。2.能夠有效縮短研發(fā)時間和資金成本。3.可以縮減器件的制作工藝成本。4.具有更加可靠和省時省力的優(yōu)勢,可以縮減器件的制作工藝成本。5.可以在真空條件下操作,提高了測試的準(zhǔn)確度。6.具有高剛性的硅片承載臺和高精度的探針控制系統(tǒng),有效提高了測試精度。7.可選配接入光纖,可將一根或幾根電學(xué)探針替換為光纖,提高了測試靈活性。8.具有優(yōu)良的直流...

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    2024

    2.27
  • 探針臺是做什么的

    探針臺是一種精密的電子測試設(shè)備,主要用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。探針臺的主要功能是進(jìn)行精密電氣測量,以確保產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性,同時也能縮減研發(fā)時間和降低制造工藝的成本。它主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環(huán)節(jié),負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號,使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個測試,實現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測試測量。探針臺通常包括載物臺、光學(xué)元件、卡盤、探針卡、探針夾具及電纜組件等部分。此外,探針臺也用于網(wǎng)絡(luò)測量的工具,可...

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    2024

    2.27
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